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BitAlyzer® 비트 오류율 테스터 BA 시리즈
분석 목적 : 비트 오류의 원인 탐색
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BitAlyzer 비트 오류율 테스터 BA 시리즈는 설계자들이 정교한 전자 및 위성 통신 시스템 설계를 검증, 특성 분석, 디버깅 및 테스트하면서 직면하는 까다로운 신호 무결성 및 BER 문제를 해결하는 업계 최고의 솔루션입니다. BitAlyzer BA 시리즈는 탁월한 신호 생성 및 분석 성능을 제공하며 간단하게 작동하는 최고의 디버깅 도구로서 일상적 작업 시간을 단축해 줍니다. 가장 포괄적인 물리 계층 테스트 도구와 직관적 사용자 인터페이스로 최대한 많은 정보를 손쉽게 이용할 수 있습니다.
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BitAlyzer BA 시리즈의 모델 :
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Model
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Max. Bit Rate
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Description
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BA1600
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1.6Gb/S
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패턴 발생기 및 오류 분석기 (Pattern Generator and Error Analyzer)
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BA1500
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1.5Gb/S
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패턴 발생기 및 오류 분석기 (Pattern Generator and Error Analyzer)
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Application
- Semiconductor Characterization
- Production Eye Mask, BER, and Jitter Testing
- Satellite Communications System Functional Testing
- Wireless Communications System Functional Testing
- Fiber Optic System and Component Testing
- Forward Error Correction Evaluation
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Features
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Benefits
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패턴 생성 및 오류 분석, 최고 1.6Gb/s의 고속 BER 측정
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하나의 장비로 생성과 분석을 수행하여 오늘날의 전자 및 통신 시스템을 위한 리시버 BER 적합성 테스트 지원
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SRS(Stressed Eye Sensitivity)를 위한 통합 스트레스 발생기 및 지터 허용 오차 적합성 테스트
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테스트 신호의 데이터 속도, 적용된 스트레스 및 데이터 패턴을 서로 독립적으로 즉시 변경할 수 있어 테스트 칩셋/시스템 감도에 다양한
신호 변동 집합 지원
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통과/실패 마스크가 포함된 통합형 BER 상관 아이 다이어그램 분석
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BER 성능 한계의 신속한 이해, 결정적 및 무작위 오류 판단, 구체적 패턴 의존적 오류 분석 수행, 오류 버스트 분석, 오류 없는 간격
분석 수행
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최고 26GB/sec의 PRBS 신호에서 오류 위치 및 BER 윤곽 분석
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BER 용어로 신호 무결성의 빠른 이해 제공. 오류 위치가 구체적 BER 패턴 감도를 제공하여 결정적 및 무작위 BER 오류를 빠르게
식별.
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ANSI 지터 측정(RJ, DJ, TJ)
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삼각 측량을 사용하여 긴 패턴의 PRBS31 지터 구성을 빠르고 효과적으로 판단. 그래픽을 통해 철저하면서도 간단한 지터 분석
수행.
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자동 마스크 생성을 이용한 BER 윤곽
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BER 기능으로 아이 다이어그램 시작부 측정 및 확인
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